ذرات فلزی با اندازه نانو

اختصاصی از فی دوو ذرات فلزی با اندازه نانو دانلود با لینک مستقیم و پر سرعت .

فرمت فایل : word(قابل ویرایش)تعداد صفحات74

فهرست
مقدمه 4
چکیده 6
فصل اول تکنیک های پراش با زاویه کوچک(SAS) 7
1-1- تکنیک های پراکندگی زاویه کوچک (SAS) 8
2-1- پخش (ارسال) نوری: 17
3-1- ارسال نوترون زاویه کوچک( (SANS 21
فصل دوم تئوری SAXS 24
1-2- قانون Guinier و شعاع دوران 29
2-2- تداخل بین ذره ای (Interparticle Interference) 31
فصل سوم تجهیزات (SAXS) 33
1-3- تجهیزات آشکارسازی شمارنده ای 34
1-1-3- دیفرکتومتر چهار شکافی (Four –Slit diffractomter) 35
2-3- دوربینهای شناسایی فتوگرافیکی 37
1-2-3- دوربین kratky 38
3-3- تجهیزات سیستم SAXS نصب شده در شرکت مترولوژی (UMASS) 42
1-3-3- منبع تشعشع 42
2-3-3- جداسازی و برد q: 44
3-3-3- آشکارسازهای سطح: 49
4- 3-3- محفظه های مربوط به نمونه: 53
5-3-3- سیستم خلاء 55
6-3-3- سکوئی برای سیستم نصب: 55
7- 3-3- سیستم ایمنی: 55
8-3-3- الکترونیک و اینترفیس (واسطه) کامپیوتری: 56
9- 3-3- نرم افزار آنالیز داده ها 57
10-3-3- تجهیزات جانب یبرای عملکرد بهینه: 58
11- 3-3- گزینه ها: 59
فصل چهارم شرایط و دستورالعمل آزمایشگاهی 60
1-4- تکفام کنندگی و انتخاب طول موج 61
2-4- تنظیم و ساخت شکاف (slit) 61
3-4- خلاء لازم 62
4-4- روش آشکارسازی 62
5-4- آماده سازی نمونه ها 63
6-4- نمونه ها 63
7-4- نمونه های استاندارد 63
8-4- زمان آنالیز 64
فصل پنجم تصحیح داده ها 65
فصل ششم آنالیز داده های SAXS 67
فصل هفتم کاربرد SAXS 71
فصل هشتم مزایا و معایب روش SAXS 74
منابع: 76

مقدمه
ذرات فلزی با اندازه نانو نقش مهمی را در مهندسی مواد ایفا می کنند چون که ویژگیهای ذرات با اندازه نانو با ویژگیهای بقیه مواد متفاوت است ]1[
توزیع اندازه ذرات نانو با استفاده از تکنیک میکروسکوپ TEM قابل اندازه گیری است TEM یک تکنیک فوق العاده مفید برای حصول اطلاعاتی نظیر توزیع اندازه ذره ، اندازه متوسط ذره و شکل ذرات نانو است ]1[
اندازه گیری TEM نیاز به عملیات پیچیده برای آماده سازی نمونه و مهارت بالای اپراتور دارد و زمان اندازه گیری طولانی است بعلاوه تکنیک TEM یک روش اندازه گیری در محل (In situ) نیست و تعداد ذرات اندازه گیری شده از فتوگراف ، در اغلب موارد از اندازه گیریهای تئوریکی کمتر است ]1[
بنابراین اکثر محققان در ارتباط با نانو تکنولوژی در جستجوی یک روش مناسب و یک روش In situ برای اندازه گیری توزیع ذرات نانو بودند این روشها بر اساس پراکندگی در زوایای کوچک استوار بود ]1[
Small-angle scattering =SAS
SAX در واقع یک نام کلی است که برای مجموعه ای از تکنیکهای زیر بکار می رود]2[
Small-angle Light Scattering (SALS)
Small-angle x-Ray scattering (SAXS)
Small-angle Neutron scattering (SANS)
در تمامی تکنیکهای فوق پراکندگی بصورت الاستیک بوده و اطلاعاتی در خصوص اندازه، شکل و توزیع ذرات بدست می آید تفاوت کلی تکنیکهای فوق در منبع تابش است که بر فاکتورهای زیر مؤثر است :
الف ) تفاوت در نمونه هایی که می توانند آنالیز شوند
ب ) تفاوت در بخش های قابل بررسی
ج ) تفاوت در اطلاعات نهایی حاصل ]2[
بطور کلی در تکنیک SAXS، particles ها مسئول ایجاد پراکندگی هستند در واقع particles ها نواحی میکروسکوپی کوچکی هستند که دانسیته الکترونی متفاوتی از اطرافشان دارند ]3[
تحت شرایط ایده آل اندازه و شکل ذرات می توانند بوسیله شدت پراش بعنوان تابعی از زاویه پراش تعیین شوند رنج اندازه ذراتی که توسط ابن تکنیک قابل اندازه گیری است در محدوده A1000-200 قرار دارد در نتیجه مواردی نظیر رسوبات در آلیاژهای محلول جامد ، سوسپانسیونهای کلوئیدی – ژلها – مولکولهای بزرگ به کمک این روش قابل شناسایی هستند ]3[
در تکنیک SAXS پراش در زوایای کمتر از 5 رخ می دهد شکل کلی پراش در شکل 1 نشان داده شده است ]4[